用自校正的方法提高SiO_2的测量精度  

To Measure the Density of SiO_2 with a Method of Self-Calibration

作　　者：张健[1] 梁清华[1] 王俊生[1] 

机构地区：[1]辽宁工学院信息科学与工程系,辽宁锦州121001

出　　处：《辽宁工学院学报》2000年第3期16-17,共2页Journal of Liaoning Institute of Technology(Natural Science Edition)

摘　　要：介绍了一种自校正方法 ,能够在自动分析 Si O2 —二氧化硅浓度的过程中 ,自动校正参数 ,克服了环境温度对硅光电池的影响 。A method of self calibration is introdueced in this paper. By the method, the density of SiO 2 can be measured precisely by verifying the parameters automatically and eliminating the influences of the environmental temperature.

关 键 词：自校 正测量 二氧化硅 浓度 硅光电池 精度 

分 类 号：O613.720.6[理学—无机化学] TM914[理学—化学]