检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王艳萍[1]
机构地区:[1]济南铁路局计量所
出 处:《上海计量测试》2012年第5期41-42,共2页Shanghai Measurement and Testing
摘 要:0引言 半导体管特性图示仪是一种能在示波器屏幕上观察和测试半导体管特性曲线和直流参数的测量仪器,具有广泛性、直观性、全面性、准确性等特点,使用面极为广泛,晶体管、场效应管、光电管、可控硅、三极管、二极管等,几乎所有的二端、三端的半导体器件均可进行观察和测试。图示仪不是用表头、指针读测数据,而是将半导体管的特性直接显示在示波管的屏幕上,一目了然。可直接读数进行分析、比较、挑选和配对。调整置于器件各端的电压值,可对半导体器件的所有直流参数进行测试。直接读测被测参数,测量准确度较高。图示仪作为一种通用仪器需要进行量值溯源,但是图示仪的检定与其他的通用仪器相比有其特殊之处,尤其是图示仪Y轴集电极电流倍率及阶梯电流的检定。针对其检定的特殊性和复杂性,下文简要介绍通用的检定方法。
关 键 词:集电极电流 检定方法 半导体管 特性曲线 图示仪 阶梯 倍率 Y轴
分 类 号:TN32[电子电信—物理电子学]
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