检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]河南科技大学材料科学与工程学院,河南洛阳471003 [2]河南省有色金属材料科学与加工技术重点实验室,河南洛阳471003
出 处:《电镀与涂饰》2012年第10期7-10,共4页Electroplating & Finishing
基 金:国家自然科学基金(50771042);河南省科技创新人才计划(104100510005);河南省高校科技创新人才支持计划(2009HASTIT023);河南省基础与前沿技术研究计划(092300410064);河南科技大学博士科研启动基金(09001233);河南省高校科技创新团队支持计划(2012IRTSTHN008)
摘 要:用单槽脉冲电沉积法在含CuSO4、NiSO4和Na3C6H5O7的镀液中制备了不同调制波长的Cu/Ni纳米多层膜,对其进行了截面形貌观察及显微硬度测量。结果表明,制备的多层膜平整,层间界清晰。其显微硬度在调制波长为100nm时出现峰值。当调制波长大于100nm时,多层膜显微硬度的变化符合Hall-Petch关系;当调制波长小于100nm时,显微硬度开始下降。X射线衍射表明,膜层中存在压应力,Ni层形成了强(100)织构。CufNi nanoscale multilayers were prepared by pulsed electrodeposition in a single bath containing CuSO4, NiSO4, and NaaC6HsO7. The cross-sectional morphology and microhardness of the multilayers were studied. The results showed that the nanoscale multilayers prepared are leveled and have clear lamellar structure. The microhardness reaches the maximum at a modulation wavelength of ca.100 nm, and corresponds to Hall-Petch relationship when the modulation wavelength is greater than 100 nm, but tends to reduces at a wavelength of less than 100 nm. The X-ray diffraction result showed that there exists a compressive stress in the nanoscale multilayers and a strong (100) texture formation in Ni layers.
关 键 词:铜 镍 纳米多层膜 脉冲电沉积 单槽 显微硬度 应力
分 类 号:TQ153.12[化学工程—电化学工业]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:18.117.227.191