扫描探针显微镜在初中研究性学习中的应用  

作　　者：鲍亚培[1] 郭晓萍[1] 何万能 

机构地区：[1]教育部教学仪器研究所,100080 [2]苏州海兹思纳米科技有限公司,215123

出　　处：《教学仪器与实验》2012年第10期28-30,共3页Teaching Instruments and Experiments

摘　　要：扫描探针显微镜（ScanningProbeMicroscope，SPM）是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜（STM）的基础上发展起来的各种新型探针显微镜（原子力显微镜AFM，激光力显微镜LFM，磁力显微镜MFM等等）的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器。扫描探针显微镜的发明使人类对物质世界的观察尺度第一次到达了纳米层次，能将所观察到的原子或分子形成三维图像，实时反应微观物质的真实形貌与结构。扫描探针显微镜是研究纳米科技的重要仪器，因此将其引入中学物理教学有助于学生更好地理解与体会纳米科技的知识与研究方法。为此，我们对北京一所中学中初一年级的部分学生开展了为期一周的主题为“纳米科技与扫描探针显微镜”的研修活动。

关 键 词：扫描探针显微镜 研究性学习 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 表面分析仪器 中学物理教学 应用 初中 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]