重离子轰击Ta靶引起的多电离效应  

Multiple ionization effect of Ta induced by heavy ions

作　　者：王兴[1,2] 赵永涛[1] 程锐[1] 周贤明[1] 徐戈[1] 孙渊博[1] 雷瑜[1] 王瑜玉[1] 任洁茹[1] 虞洋[1] 李永峰[1] 张小安[3] 李耀宗[3] 梁昌慧[3] 肖国青[1] 

机构地区：[1]中国科学院近代物理研究所,兰州730000 [2]西安交通大学理学院,西安710049 [3]咸阳师范学院物理与电子工程学院,咸阳712000

出　　处：《物理学报》2012年第19期140-144,共5页Acta Physica Sinica

基　　金：国家重点基础研究发展计划(批准号:2010CB832902);国家自然科学基金(批准号:10805063;11075125;11075135;11075192);陕西省自然科学基金(批准号:2010JM1012);陕西省教育厅科研计划项目(批准号:2010JK895)资助的课题~~

摘　　要：在兰州重离子加速器国家实验室分别测量了H^+,He^(2+),Ar^(11+)和Xe^(20+)离子轰击Ta表面过程中辐射的X射线谱,并得到了Ta特征X射线谱中M_γ(M_3N_5)和M_(αβ)(M_(4,5)N_(6,7))线的强度,即I_γ和I_(αβ).分析结果表明,强度比值I_γ/I_(αβ)随着入射离子原子序数的增加而显著增加,这是由于碰撞过程中Ta原子的多电离效应使M_3支壳层的荧光产额ω_3产生了显著增强.The M X-ray spectra of Ta induced by H＋, He2＋, Ar11＋ and Xe20＋ are measured in Heavy Ion Research Facility in Lanzhou. The intensities of Mγ （M3N5） and Mαβ （M4,5N6,7）, i.e. Ⅰγ and Ⅰαβ, are also derived from the spectra. It is found that the intensity ratio of Ⅰγ/Ⅰαβ, increases with the increase of projectile atomic number. The results show that the M3-subshell fluorescence yield ω3 of Ta target is greatly enhanced, owing to multiple ionization effect in collision with heavy ions.

关 键 词：X射线 荧光产额 高电荷态离子 多电离效应 

分 类 号：TL56[核科学技术—核技术及应用]