基于MC9S08AW32处理器的功能测试系统设计  

A functional testing system design based on MC9S08AW32 processor

作　　者：李月[1] 陈天华[1] 

机构地区：[1]北京工商大学计算机与信息工程学院,北京100048

出　　处：《制造业自动化》2012年第20期120-123,共4页Manufacturing Automation

基　　金：北京市教委科技创新平台项目(PXM2011-014213-113551);北京市教委科技发展计划面上项目(KM201010011002)

摘　　要：根据当前传统功能测试系统的现状和存在的主要问题,提出了一种MC9S08AW32处理器在功能测试系统中的应用方法,详细介绍了测试系统的设计思路、整体结构和原理,并对核心控制器软硬件通信、通道选择和自检等关键技术和实施要点做了进一步的说明。经实验和实际生产已证明了该测试系统能够满足实际生产线需求,具备工作稳定性好,性价比高,通用性和扩展性强的特点。

关 键 词：功能测试 继电器矩阵 飞思卡尔 MC9S08AW32 

分 类 号：TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]