嵌入式系统内存检测分析  

Analysis of memory testing in embedded system

作　　者：符冬阳[1] 

机构地区：[1]中兴通讯股份有限公司南京研究所,江苏南京210012

出　　处：《微型机与应用》2012年第21期26-27,共2页Microcomputer & Its Applications

摘　　要：在大部分嵌入式系统中,内存的好坏主要依赖于内存芯片厂家的检测,对系统运行中出现的内存偶然故障,缺乏有效的检测手段。对嵌入式系统中内存检测的各个阶段、内存检测方式以及全空间检测方法等进行了详细描述。In reason of oecurrent testing methods. memory embedded system, memory testing mainly relies on the manufacture. There is less methods to find the fauh. This paper proposes a whole procedure and methods of memory testing, and also the whole space

关 键 词：嵌入式系统 内存检测 

分 类 号：TP332[自动化与计算机技术—计算机系统结构]