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作 者:郭世汉[1] 涂昀[1] 曾波[1] 曹祖选 金辉[1]
机构地区:[1]新余钢铁集团有限公司,江西新余338001 [2]方大特钢科技股份有限公司,江西南昌330012
出 处:《江西冶金》2012年第5期36-38,共3页Jiangxi Metallurgy
摘 要:探讨了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)测定硼铁中铝、硅、磷、硼的分析条件。试样经过氧化钠熔融,盐酸酸化,采用ICP-OES于同一试液中联合测定铝、硅、磷、硼,铁的背景干扰采用背景校正扣除。确定了仪器的最佳分析条件,选择铝、硅、磷、硼的分析谱线分别为396.152 nm,251.611 nm,178.284 nm,249.773 nm。该法已用于硼铁合金标准样品中铝、硅、磷、硼的测定,测定结果与认定值相符,相对标准偏差(n=7)为0.56%~3.3%,加标回收率在96%~103%。Discusses the inductively coupled plasma atomic emission spectrometry (ICP - OES) determination of iron boron al and silicon, phosphorus and boron analysis conditions. Sample after sodium oxide melt, hydrochloric acid acidification, using ICP - OES in the same test solution combined determination of aluminum, silicon, phosphorus and boron, iron background interference using background correction deduction. Determine the best analysis condition of the instrument, the choice of aluminum, silicon, phosphorus and boron analytical spectral lines were 396. 152 nm, 251. 611 nm, 178. 284 nm, 249. 773 nm. The method has been used in ferro boron standard sample al and silicon, phosphorus and boron t, the measurement result is consistent with that value, relative standard deviation (n = 7) is 0.56% - 3.3%, the labeled recovery is 96% - 103%
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