第五届国际光电子探测与成像技术学术交流会征文通知  

International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2013

出　　处：《光电工程》2012年第12期F0002-F0002,F0004,共2页Opto-Electronic Engineering

摘　　要：投稿要求：请作者先提交论文的英文摘要，摘要长度为300—400个单词，详细要求参见会议网站。收到录用通知后，请按要求将论文全文提交至SPIE网站。摘要提交网址：http：／／www．manuscript—cnoenet．com／index_en．

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分 类 号：TP277[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]