检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]景德镇陶瓷学院材料科学与工程学院,江西省先进陶瓷材料重点实验室,景德镇333001
出 处:《材料导报(纳米与新材料专辑)》2012年第2期232-235,共4页
基 金:中国人保部留学人员科技活动项目([2011]474);江西省青年科学家(井冈之星)培养对象计划(20112BCB23022);江西省自然科学基金(2010GQC0108);江西省教育厅科技项目(GJJ12496)
摘 要:采用分段恒电位电沉积法在FTO导电玻璃上制备了CuInSe2(CIS)薄膜。通过线性电位扫描分析了阴极的电化学反应,并通过电化学沉积法制备了CIS薄膜。结果表明,恒电位电化学沉积的薄膜与CIS的化学计量比相差较大,增加溶液中铟离子的浓度,可以提高铟在镀层的含量,使薄膜更接近CIS化学计量比。而采用分段恒电位法沉积薄膜,可以抑制铜硒化合物的生长,使薄膜更接近于CIS化学计量比。CuInSe2 (CIS) thin films were prepared by step potentiostatic electrodeposition on F-doped tin oxide (FTO) glasses, and their electrodeposition behavior were investigated by the linear sweep voltammetry. It is shown that the one-step potentiostatic electrodeposited CIS thin films have great deviation from the ideal stoichiometric ratio of 1 : 1 : 2, and the increasing of In3+ concentration in the electrolytes could close to the stoichiometric ratio. And the step electrodeposition could reduce the production of the copper selenide and the electrodeposited CIS film has shown a near-stoichiometric ratio.
关 键 词:线性电位扫描 铜铟硒薄膜 分段电沉积 恒电位电沉积
分 类 号:TQ153.4[化学工程—电化学工业]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.222