检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621900
出 处:《电子产品可靠性与环境试验》2012年第6期9-12,共4页Electronic Product Reliability and Environmental Testing
摘 要:腔体电真空器件内部可移动的多余物是引起元器件失效的原因之一,目前用于器件内部可移动多余物的常用检测手段是随机振动(SRT)和颗粒碰撞噪声检测(PIND)。对比两种检测方法对缺陷产品的检出率,给出比较合理的电真空器件可移动多余物的检测流程,以期尽可能地提高缺陷产品的检出率。Movable remnant particles in the cavity of electronic vacuum device is one of the factors arousing device failure. Present methods to detect movable remnant particles in the cavity of device are Stochastic Resonance Test (SRT) and Particle Impact Noise Detection (PIND) Based on the detection rates comparation method, in order to increase the detection movable remnant particles in vacuum device. between these two methods, an optimised rates of the defective product for detecting.
关 键 词:腔体电真空器件 可移动多余物 随机振动试验 颗粒碰撞噪声检测
分 类 号:TN107[电子电信—物理电子学]
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