高速CMOS门阵列的准静态功能测试  

作　　者：孙祖希 

出　　处：《LSI制造与测试》1991年第3期21-28,共8页

关 键 词：CMOS 门阵列 静态功能 测试 

分 类 号：TN432.07[电子电信—微电子学与固体电子学]