电离层高频斜向探测技术与选频应用  

作　　者：卢华平[1] 李斌[1] 王方超[1] 

机构地区：[1]镇江船艇学院

出　　处：《商情》2013年第1期152-152,共1页

摘　　要：电离层探测是研究电离层特性和进行短波选频的重要手段之一，随着科学技术发不断发展，人类发明了各种各样的电离层探测方法，而电离层高频斜向探测，就是这众多探测方法中重要的一种。介绍了电离层斜向探测的基本原理、斜测电离图及应用，同时也对这种探测方法的优点和局限性进行了评述．

关 键 词：高频斜向探测 斜测电离图 选频 优点和局限 

分 类 号：F062.4[经济管理—政治经济学]