SDD探测器在X荧光分析系统中的应用  

Application of SDD detector in the X-ray fluorescence analysis system

作　　者：何伟龙[1] 王健[1] 杨勇 

机构地区：[1]杭州电子科技大学,浙江杭州310018 [2]聚光科技,浙江杭州310052

出　　处：《大众科技》2012年第12期96-97,共2页Popular Science & Technology

摘　　要：介绍了硅漂移(SDD)探测器在X荧光分析系统中的应用,与SI-PIN探测器在能量分辨率、计数率等性能指标上的对比,以及在系统检出限上的实验对比,SDD探测器在性能指标及检出限上有着较大的优势。In this paper,the application of silicon drift detector（SDD） in the X-ray fluorescence（XRF） analysis system was mostly discussed.Compared with SI-PIN detector at the key performance parameter like energy resolution and count rates,and also on the detection limit,the SDD detector had a larger advantage.

关 键 词：SDD探测器 SI-PIN探测器 X荧光分析 检出限 

分 类 号：TL814[核科学技术—核技术及应用]