全反射X射线荧光分析技术在核科学领域中的应用  

Application of TXRF Analysis in Nuclear Science

作　　者：乔亚华[1] 杨阳[1] 王博[1] 郑维明[2] 金立云[2] 

机构地区：[1]环境保护部核与辐射安全中心,北京100082 [2]中国原子能科学研究院,北京102413

出　　处：《核电子学与探测技术》2012年第11期1263-1268,共6页Nuclear Electronics & Detection Technology

摘　　要：全反射X射线荧光(TXRF)分析是一种较先进的核分析技术,论文在回顾TXRF分析技术发展历程的基础上,扼要介绍了该项分析技术的基本原理、仪器组成、特点及应用。重点介绍了它在核科学领域中的应用,并对其在该领域的应用进行了展望。Total reflection X - ray fluorescence （TXRF） analysis is an advanced nuclear analysis technology. In the paper, the course of development is reviewed, the principle 、 instrument structure 、characteristic and application of TXRF is introduced, The emphases is to expound the application and the prospect of TXRF in nuclear science.

关 键 词：全反射X射线荧光分析 分析 核科学 

分 类 号：O43[机械工程—光学工程]