大功率IGBT击穿故障分析及驱动保护电路设计  

作　　者：张广智[1] 王琳琳[1] 赵伟华[1] 张伟光[1] 李全熙 

机构地区：[1]哈尔滨师范大学物理与电子工程学院 [2]91329部队装备部

出　　处：《科技创新导报》2012年第35期29-30,共2页Science and Technology Innovation Herald

摘　　要：该文通过对IGBT组成的H桥在大功率高速开关条件下进行大量实验,列举了IGBT发生击穿故障的多种原因,结合IGBT器件的结构分析其击穿过程及击穿表现,并通过计算提出了一种输出波形稳定的IGBT驱动电路以及相应的保护电路。

关 键 词：击穿 驱动 保护 

分 类 号：O453[理学—无线电物理]