表面等离子体波衰减全反射谱的非扫描测定  

Non-Scanning Determination for Attenuated Total Reflection Spectrum of Surface Plasmon

作　　者：张继林[1] 曹庄琪[1] 张爱华 黄澍 沈启舜 窦晓鸣 陈英礼 

机构地区：[1]上海交通大学光学与光子学研究所分子光子学实验室,上海200240

出　　处：《光电工程》2000年第4期14-17,共4页Opto-Electronic Engineering

基　　金：国家自然科学基金项目!( 699770 13 );国家科技部;上海市教委和新材料研究中心资助项目

摘　　要：提出一种利用 CCD摄象技术对表面等离子体波衰减全反射谱 ( ATR峰 )进行一次成象测量的方法。利用光学图象空间滤波技术对激光光斑进行均匀化处理 ,并利用计算机图象处理技术对 CCD摄取图象进行噪声信号的剔除和图象信号的优化 ,以及高斯分布激光光强的反高斯变换技术 ,成功地实现了 ATR峰的非扫描测量 ,避免了传统的利用步进马达驱动 θ/2 θ转角仪测量ATR峰的繁琐过程。A method for measuring the Attenuated Total Reflection(ATR) spectrum of surface plasmon by means of CCD technology is proposed.The non scanning measurement for ATR spectrum is successfully carried out by a homogenizing processing for laser spot with optical image spatial filtering,the noise signal eliminated by computer image processing and anti Gaussian transform for Gaussian distribution laser intensity.In this way a tedious process for measuring ATR spectrum by driving θ/2θ corner instrument with step motor is avoided.

关 键 词：全反射光谱 光谱测量 表面等离子体波衰减 

分 类 号：O433.1[机械工程—光学工程]