检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王若虚[1]
机构地区:[1]信息产业部电子第二十四研究所,重庆400060
出 处:《微电子学》2000年第4期231-233,共3页Microelectronics
摘 要:文中介绍了一种低成本、高可靠性的A/D转换器(ADC)转换精度的计算机辅助测试方法,并对测试系统的原理、结构及算法进行了描述。该方法适合于分辨率低于16位的逐次逼近型ADC的测试,对ADC的入厂检验测试有一定的实用价值。A technique for computer aided test of the accuracy of analog-to-digital converters(ADC )is presented .which is cost-effective and highly reliable. The principle of the test system and its structure are introduced. And the test algorithm is described. The technique is suitable for test of successive approximation ADC's with a resolution of 16-bit and below.
分 类 号:TP335.107[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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