一种由压电双晶片测量压电常数d_(31)的方法  

The Measurement of Piezoelectric Constant d_(31) with Piezoelectric Bimorphs

作　　者：叶会英[1] 浦昭邦[1] 

机构地区：[1]哈尔滨工业大学自动化测试与控制系,哈尔滨150001

出　　处：《压电与声光》2000年第3期203-205,共3页Piezoelectrics & Acoustooptics

摘　　要：提出了一种新的测量方法 ,由一种实用元件——压电双晶片测量压电材料的压电常数 d31的方法。这种测量方法不同于通常的由标准试样测量压电材料参数的方法。文中给出了测量原理、测量装置及由一种 PZT样本的测量结果 ,并同时给出了 IEEE标准测量方法的结果。理论和实验结果表明 :这种新的测量方法是可行的。A new method for determining the piezoelectric constant d 31 of piezoelectric materials is described.By contrast with common methods which measure d 31 using standard samples,this new method utilizes practical samples:piezoelectric bimorphs.In this paper,we also provide the measuring principle,the measuring apparatus,and experimental values of a typical example PZT.The piezoelectric constant d 31 by this method is very good in agreement with the experiment data by the IEEE method.

关 键 词：压电常数 压电双晶片 压电测量 压电陶姿 

分 类 号：TM282[一般工业技术—材料科学与工程]