高频铜箔绕组中的最佳气隙设计  

作　　者：松炳超 

出　　处：《电子变压器技术》2000年第2期23-31,10,共10页

摘　　要：由于趋肤、邻近、边缘以及其它交流效应，在变压器和电感器绕组中通常会引起高频交流损耗。此外，线组结构会大大地影响绕组内损耗的分布。通常在磁性器件的磁心中设置的气隙，以维持高的磁动势（ｍｍｆ）。由于边缘场会引起绕组附加的交流损耗，因此务必注意减少附加损耗。本文将研究气隙设计对所引起损耗的影响。特别是将研究并估算三种气隙的设计，即集总气隙、离散分敢隙和均匀分布气隙。

关 键 词：气隙设计 铜箔绕组 高频 

分 类 号：TM463.2[电气工程—电器]