成像测井研究薄互层宏观电性各向异性及应用  

作　　者：房春慧[1] 潘保芝[1] 边会媛[1] 

机构地区：[1]吉林大学地球探测科学与技术学院

出　　处：《国外测井技术》2012年第6期48-51,共4页World Well Logging Technology

摘　　要：由于测井仪器纵向分辨率的限制造成薄互层的宏观电性各向异性,使薄互层的评价一直是测井评价的难点。本文旨在由薄互层的宏观各向异性入手,利用FMI成像测井数据结合深侧向电阻率测井数据对薄砂岩层的电阻率进行恢复,并对其储集性进行评价,并与岩心数据对比,评价效果良好。

关 键 词：成像测井 薄互层 宏观各向异性 测井 

分 类 号：P315.72[天文地球—地震学]