北京谱仪积分亮度测量的新方法  

New Methods to Measure Integrated Luminosity at BES

作　　者：黄光顺[1] 程宝森[1] 苑长征[1] 李新华[1] 祁向荣[1] 刘靖[1] 陈光培[1] 陈江川[1] 胡海明[1] 胡涛[1] 巨新[1] 李金[1] 毛泽普[1] 薛生田[1] 张良生[1] 郑志鹏[1] 周莉[1] 赵政国[1] 

机构地区：[1]中国科学院高能物理研究所,北京100039

出　　处：《高能物理与核物理》2000年第5期373-378,共6页High Energy Physics and Nuclear Physics

基　　金：国家自然科学基金!(19991 480);中国科学院重大及特别支持项目!(KJ95T-03);国家杰出青年基金!(19825116)资助

摘　　要：介绍了利用e+ e- 对撞中双 μ产生和双γ产生两种QED过程来测量积分亮度的新思路 .前者的特色在于用单根径迹选择双 μ事例 ,后者则是首次利用双γ事例测定亮度 .两种方法分别用于 1 998年春季北京谱仪 (BES)R值扫描 6个能量点的积分亮度测量 ,所得结果的误差分别小于 8.0 %和 7.5% 。Two new methods are introduced for the first time at BES to measure the integrated luminosity from events in large angle produced by QED dimuon and two gamma production processes. With these methods,the integrated luminosities of the 6 energy points at 2.6,3.2,3.4,3.55,4.6 and 5.0 GeV scanned for the measurement of R are determined. The measured integrated luminosities are consistent with that determined using large angle Bhabha events.

关 键 词：积分亮度 双μ产生 双γ产生 正负电子对接 北京 

分 类 号：O572.11[理学—粒子物理与原子核物理]