红外探测器中的异质界面和缺陷的研究  

作　　者：刘安生[1] 邵贝羚[1] 安生[1] 刘峥[1] 王敬[1] 

机构地区：[1]北京有色金属研究总院分析测试技术研究所,北京100088

出　　处：《电子显微学报》2000年第4期507-508,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基　　金：国家自然科学基金资助项目 !批准号为 6 95 76 0 0 2

关 键 词：红外探测器 异质界面 缺陷 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学]