基于迈克尔逊干涉原理的反射式光电检测仪测量高分子材料的折射率  

Measurements of Refractive Index of Polymer Materials Using Photoelectricity Reflectometry Based on Michelson Interference Method

作　　者：郑其明[1] 

机构地区：[1]南京化工职业技术学院基础部,江苏南京210048

出　　处：《安徽师范大学学报（自然科学版）》2012年第5期448-451,共4页Journal of Anhui Normal University(Natural Science)

摘　　要：将迈克尔逊干涉仪与反射计有机结合,提出一种全新的测量高分子材料折射率的方法.针对液体、粉末等不同形态的样品,设计相应的盛放容器,并利用上述方法对高分子材料的折射率进行测量.Based on the Michelson interference,this paper proposes a novel photoelectricity reflectometry measuring refractive index of polymer materials.A cube container was designed according to different forms of polymer samples,for example liquid,powder etc.The refractive index of the polymer materials is measured using the above method.

关 键 词：迈克尔逊干涉仪 反射仪 折射率 

分 类 号：O436.1[机械工程—光学工程]