检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]国防科学技术大学光电科学与工程学院 [2]解放军68127部队
出 处:《光学技术》2013年第1期37-40,共4页Optical Technique
基 金:国家自然科学基金项目(10975186)
摘 要:利用Mach-Zehnder干涉仪测量了空气开关中等离子体电子密度分布,使用高速分幅相机拍摄记录不同时延下的干涉条纹图像。针对实验获得的干涉条纹图像的特点,提出了一种首先进行频域FFT滤波去噪,然后进行空域二值化、细化的处理方法。该方法能够很好的消除图像噪声的影响,提取出单像素的亮条纹中心线,从而能够准确读取条纹坐标信息,再通过对干涉条纹偏移量进行Abel逆变换,得到等离子体电子密度分布。Mach-Zehnder interferometer is used to measure the electron density of plasma in air switch. Interference fringes are shoot by high speed framing camera. By research the feature of interferograms, an image processing method is given. Firstly, the interferograms are pretreated by a band-pass filter in Fourier-frequency domains. Secondly, the filtered interferograms are compressed in 2-gray level images. Thirdly, the 2-gray level images are thinned by Hilditch method; the center of the interference fringes is obtained. At last, Electron density of air switch plasma is obtained by operated inverse Abel transform on the fringes shift.
关 键 词:干涉测量 开关等离子体 图像处理 Abel逆变换
分 类 号:TP751.2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置] O436.1[自动化与计算机技术—控制科学与工程]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.249