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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]运城学院物理与电子工程系,山西运城044000 [2]博敏电子股份有限公司,广东梅州514000
出 处:《印制电路信息》2013年第2期18-20,共3页Printed Circuit Information
摘 要:采用正交试验方法,研究了碱性氯化铜蚀刻液中(Cu2+)、(Cl-)、pH值、及蚀刻液温度对铜箔蚀刻速率的影响规律。结果表明:在因素水平范围内,对蚀刻速率影响的大小顺序为蚀刻液温度>Cu2+浓度>pH值>Cl-浓度,最佳蚀刻工艺条件为(Cu2+)=100g/L,(Cl-)=120g/L,pH=8.5,T=50℃,静态蚀刻速率可达8.76 m/min。Using orthogonal experiment, the effects of (Cu2+), (Cl-), pH value and etching solution temperature in alkaline copper chloride solution influencing etching rate were studied. The results show that the sequence of influencing etching rate are etching solution temperature, (Cu2+), (Cl-) and pH, in the range of the factors. The optimal etching process conditions are (Cu2+)=100g/L, (Cl-)=120g/L, pH=8.5, T=50℃and the rate of static etching is up to 8.76μm/min.
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