基于小波-神经网络的电阻性开路故障诊断方法  

Wavelet analysis and neural network based fault diagnosis for resistive-open defects

作　　者：余长庚[1] 赖丽萍[1] 

机构地区：[1]广西贺州学院,广西贺州542800

出　　处：《山东科学》2013年第1期56-59,共4页Shandong Science

基　　金：贺州学院院级项目(2010ZRKY06;2012PYZK06)

摘　　要：数字电路中的电阻性开路引起时滞性故障,会使电路的功能失效。针对此故障,本文在分析数字电路的瞬态电流IDDT测试和主成分分析技术的基础上,研究了小波-神经网络诊断电阻性开路故障的方法。结果表明,使用小波-神经网络的数字电路的IDDT方法行之有效。Resistive-open defects in a digital circuit will cause a time-delay fault and functional failure of a circuit. We address a fault diagnosis method of resistive-open defects with wavelet analysis and neural network based on the analysis of transient power supply current（IDDT） and principal component analysis. Results show that the method is feasible.

关 键 词：电阻性开路故障 瞬态电流IDDT 小波分析 主成分分析 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]