弹上电子产品加速寿命试验设计与应用  

Design and Application of the Accelerated Life Test on Electronic Products of Missile

作　　者：文建国[1] 郭桂友[2] 

机构地区：[1]海军航空工程学院,烟台264001 [2]海军装备部装备采购中心,北京100071

出　　处：《舰船电子工程》2013年第2期99-101,共3页Ship Electronic Engineering

摘　　要：弹上电子产品是导弹的重要组成部分,其贮存性能直接决定着导弹的技术状态。为了快速预估弹上电子产品的贮存使用寿命,针对其不同贮存使用环境,利用加速寿命试验的设计原则,对加速老化试验方案进行了设计。该试验方案可为进一步设计导弹在不同环境应力影响下的加速寿命试验提供试验设计思路。Electronic products are the important part of missile. The storage performance of its effect on the technique state of the mis- sile. In order to shorten testing time and evaluate its life, the means of accelerated life test is advanced. The test scheme is designed by the way of accelerated life to simulate different enviromental stress. The idea of test can also be applied to design accelerated missile life test un- der different enviromental stress.

关 键 词：导弹 电子产品 加速寿命试验 环境应力 

分 类 号：V512[航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]