X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法与焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅水平比较  

Comparison between X-ray diffraction Rietveld full spectrum diagram and pyrophosphate methods in determination of free silica content in tin smelting dust

作　　者：李小萍[1] 麦志丹[1] 梁德新[1] 葛宪民[1] 王力珩[1] 曾令民[2] 

机构地区：[1]广西壮族自治区职业病防治研究院,广西南宁530021 [2]广西大学,530021

出　　处：《中国职业医学》2013年第1期45-46,共2页China Occupational Medicine

基　　金：广西自然科学基金项目(桂科自0728166;0991224);广西卫生厅重点课题基金项目(重200638)

摘　　要：目的探讨X射线衍射里特沃尔德(Rietveld)全谱图拟合法和焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅(SiO2)水平的差异。方法应用X射线衍射Rietveld全谱图拟合法和焦磷酸法测定同一锡冶炼粉尘中游离SiO2水平,采用配对t检验对2种方法的检测结果进行比较分析。结果焦磷酸法的重现性测定相对标准偏差大于X射线衍射Rietveld全谱图拟合法;焦磷酸法测得的粉尘中游离SiO2水平高于X射线衍射Rietveld全谱图拟合法的测定结果(P<0.05)。结论焦磷酸法在测定含有较多难溶物质的锡冶炼粉尘中的游离SiO2时,可能会导致结果产生较大偏差,应辅以全谱图拟合法进行分析。

关 键 词：锡冶炼粉尘 焦磷酸法 X射线衍射Rietveld全谱图拟合法 游离SiO2 

分 类 号：R135[医药卫生—劳动卫生]