ZnO压敏电阻交流老化TSC特性  

作　　者：屠幼萍 王倩[2] 何洁[3] 李晓 丁立健 

机构地区：[1]北京市高电压与电磁兼容重点实验室华北电力大学,北京102206 [2]西安理工大学自动化与信息工程学院,西安710048 [3]中国电力科学研究院,北京100192

出　　处：《中国科学：技术科学》2013年第3期241-246,共6页Scientia Sinica(Technologica)

基　　金：国家自然科学基金(批准号:50577021,50877025);教育部博士点基金(批准号:200800790004)资助项目

摘　　要：氧化锌压敏电阻片的交流老化特性及机理一直以来广泛受到人们的关注.本文基于"十度倍半"法则开展了ZnO压敏电阻加速老化试验,并对老化各阶段的试样进行了功率损耗和热刺激电流(TSC)测试.测试结果显示,随着老化时间的增加,ZnO压敏电阻片的功率损耗增大、TSC陷阱电荷量增加,同时陷阱能级也有加深;此外,功率损耗增大与TSC陷阱电荷量增加有相同的趋势.初步分析表明,迁移的填隙锌离子影响了空间电荷的分布,导致肖特基势垒的降低,引起了陷阱能级的变化.

关 键 词：氧化锌压敏电阻 热刺激电流(TSC)功率损耗 填隙锌离子 肖特基势垒 

分 类 号：TM54[电气工程—电器]