2012微电子与元器件计量测试研讨会在京召开  

出　　处：《宇航计测技术》2013年第1期74-74,共1页Journal of Astronautic Metrology and Measurement

摘　　要：2012年12月20日,由工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国半导体协会、国防科技工业微电子元器件一级计量站主办的＂2012微电子与元器件计量测试研讨会＂在北京顺利召开。国家质监局计量司宋伟副司长、陈红处长,工业和信息化部科技司韩俊副司长、技术基础处常利民处长,

关 键 词：微电子元器件 计量测试 国防科技工业 电子工业 国家质监局 信息化 研究院 标准化 

分 类 号：TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]