逻辑信号测试仪的设计与实现  

Design and Realization of Logic Signal Tester

作　　者：黄天辰[1] 王帅[1] 王文豪[1] 李少波[1] 

机构地区：[1]军械工程学院,河北石家庄050003

出　　处：《电子产品世界》2013年第3期57-58,共2页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：采用中小规模集成电路,设计并实现了一种逻辑信号测试仪。该测试仪不仅能区分逻辑电平的三种状态:高电平、低电平、高阻,而且还能区分脉冲信号及其频率的数量级。测试仪的电源电压范围宽(3～18V),适用于各种类型的数字电路逻辑信号的测试,具有实现容易、操作简单、功能可靠、价格低廉、实用性强等优点。

关 键 词：测试仪 逻辑信号 电路设计 

分 类 号：TN79[电子电信—电路与系统]