TG328系列电光分析天平光标移动受阻原因及解决方法  

作　　者：姚勇刚 

机构地区：[1]江苏省徐州市计量测试技术研究所

出　　处：《中国计量》2013年第3期119-120,共2页China Metrology

摘　　要：TG328系列电光分析天平广泛应用于化学分析和实验室的一些精确称量中．其称量结果是否准确．除了依靠砝码和天平计量特性（如臂差、灵敏度）准确外，还取决于天平光标能否自由移动到平衡位置。如果天平光标无法自由移动到平衡位置．则必然造成天平称量结果不准确。在TG328系列电光分析天平使用或检定过程中常会出现光标移动受阻的现象．造成此类故障的原因有很多。常见故障原因和解决方法有以下几种：

关 键 词：电光分析天平 光标移动 故障原因 受阻 平衡位置 计量特性 化学分析 实验室 

分 类 号：TH715.11[机械工程—测试计量技术及仪器]