中国电子技术标准化研究院召开微电子与元器件计量测试研讨会  

作　　者：刘冲 

出　　处：《信息技术与标准化》2013年第1期16-16,共1页Information Technology & Standardization

摘　　要：近日，中国电子技术标准化研究院、中国半导体协会、国防科技工业微电子元器件一级计量站在京联合召开“2012微电子与元器件计量测试研讨会”。国家质监局计址司宋伟副司长、工信部科技司韩俊副司长在讲话时强调了微电子与元器件计量测试的重要性，

关 键 词：微电子元器件 电子技术标准化 计量测试 研究院 中国 国防科技工业 国家质监局 半导体 

分 类 号：TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]