真空校准系统测量过程统计控制的设计与实施  

作　　者：石祁 杨力[1] 

机构地区：[1]核工业理化工程研究院,天津300180

出　　处：《科技创新与应用》2013年第10期85-86,共2页Technology Innovation and Application

摘　　要：为确定真空校准系统测量过程是否稳定受控,文章对其设计并实施了统计控制,这也是我院首次将统计控制方法应用在测量过程的控制。在采集测量控制数据基础上,建立了控制模型,应用t检验和F检验两种统计检验法,计算得到统计量,对测量过程是否受控进行判定。实施结果表明,真空校准系统测量过程处于稳定受控状态,测量结果真实可靠。

关 键 词：真空校准系统 测量过程 统计控制 

分 类 号：O212.1[理学—概率论与数理统计]