一种非均匀校正的新算法  

A NEW NONUNIFORM CORRECTION ALGORITHM

作　　者：田丽珍[1] 李庆辉[1] 刘上乾[1] 

机构地区：[1]西安电子科技大学技术物理系,陕西西安710071

出　　处：《应用光学》2000年第2期4-6,共3页Journal of Applied Optics

摘　　要：本文在分析现行各种非均匀校正算法优缺点的基础上 ,根据红外焦平面器件探测单元响应曲线特点和神经网络理论 ,提出一种新的非均匀校正方法——“S”曲线模型算法。该算法能同时校正焦平面器件的非均匀性和非线性 ,并且具有动态范围大、存贮容量小和校正精度高等优点。A new nonuniform correction method,“S”curve model algoriityhm,is proposed.The algorithm is used to correct nonuniformity and nonlinearity of FPA devices and it has the advantages of large dynamic range,small storage capacity and high corrective accuracy,etc.

关 键 词：焦平面器件 非均匀性校正 红外焦平面列阵 

分 类 号：TN214[电子电信—物理电子学]