基于MM*模型下悲观诊断系统的高效故障诊断  

Efficient Fault Identification of Pessimistic Diagnosable Systems under MM* Model

作　　者：谭杰[1] 杨小帆[1] 郑敏[1] 

机构地区：[1]重庆大学计算机学院,重庆400044

出　　处：《世界科技研究与发展》2013年第2期201-204,共4页World Sci-Tech R&D

摘　　要：在系统故障诊断中,悲观诊断与精确诊断相比,前者可以显著提高系统的自诊断能力。而当前对于t1/t1-可诊断系统却没有很好的基于MM*模型的悲观诊断算法。因此,本文在MM*模型下,研究了t1/t1-可诊断系统的诊断算法,并提出了一个时间复杂度为O(N^(2.5))的悲观诊断算法,Ⅳ代表处理器节点总数。在时间复杂度方面,这是一个比较高效的诊断算法。In comparison with precise diagnosis, pessimistic diagnosis can enhance the self-diagnosing capability of a system. So far, there isn＇t efficient pessimistic diagnosis algorithm for t1/t1 -diagnosable system under MM ＊ model. So,in this paper,the fault diagnosis oft1/t1 -diagnosable system is addressed under the MM ＊ model, proposing an O （N2. 5 ） algorithm for pessimistic diagnosis of t1/t1-diagnosable system, where N denote the total number of the processors. In terms of time complexity, the presented algorithm is efficient.

关 键 词：多计算机系统 系统级故障诊断 MM＊模型 悲观模型 诊断算法 

分 类 号：TP307[自动化与计算机技术—计算机系统结构]