检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]华中科技大学光学与电子信息学院,湖北武汉430074
出 处:《现代电子技术》2013年第9期151-154,共4页Modern Electronics Technique
基 金:华中科技大学2012年自主创新基金科学仪器类仪器专项资助(0118230011)
摘 要:为了解决PTC热敏电阻元件在耐电压测试过程中测试效率低以及测试结果的稳定性与可靠性差等问题,设计了矩阵式PTCR耐电压自动测试系统。系统由气缸夹持并推进样品夹具;采用高速MCU控制继电器组顺序对8×16矩阵式PTCR样品进行耐电压测试;各路均有过流保护电路,可实时监测回路电流并对过流迅速做出反应,且运用了去干扰技术;还可与上位机配合自动分选样品。实际应用表明,系统的测试结果准确稳定可靠,自动化程度高,提高了生产效率。A voltage-withstanding auto-test system for matrix PTCR was designed to solve the problems of low efficiency in the voltage-withstanding test process of PTC thermistors, and unstable and unreliable test results. A cylinder is used in the system to clamp and move sample holder. The high-speed MCU controlled relay set is adopted to test the PTCR samples with 8*16 matrix form sequentially. Every channel contains an overcurrent protection circuit which can monitor loop current and response rapidly in case of overcurrent. The automatic sorting of samples can be executed with PC. The actual application shows that the tested result is precise, stable and reliable, and the system is high automatic and efficient.
分 类 号:TN37-34[电子电信—物理电子学] TP216[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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