发射率影响修正近似公式及其适用性分析  

作　　者：原遵东[1] 陈桂生[2] 

机构地区：[1]中国计量科学研究院,北京100013 [2]中国测试技术研究院,成都610021

出　　处：《计量技术》2013年第4期7-10,共4页Measurement Technique

基　　金：质检公益性行业科研专项资助项目（200910106）

摘　　要：黑体辐射源的有效发射率影响是辐射测温计量标准中的重要影响因素。本文利用有效亮度温度概念，对辐射温度计或黑体辐射源检定校准中的发射率影响修正模型的多种简化形式进行了分析比较。定量分析了Wien近似、忽略环境辐射近似和微差近似等几种近似模型的温度与波长适用性。其中微差模型具有简明的物理含义，经典的短波高温修正模型不宜用于常见的8～14μm辐射温度计的测量结果修正。在有效亮度温度测量与校准的发射率修正和不确定度传播计算中，本文分析结果为在不同波长和温度范围合理选择简化公式提供了参考依据。

关 键 词：发射率修正 有效亮度温度 适用性 辐射温度计 黑体辐射源 校准 不确定度 

分 类 号：TB942[一般工业技术—计量学]