利用光干涉法测试并研究压电陶瓷材料的逆压电系数  

作　　者：汪逸新[1] 徐惠钢[1] 

机构地区：[1]江苏常熟高等专科学校物理系,215500

出　　处：《物理实验》2000年第3期13-14,共2页Physics Experimentation

摘　　要：在迈克尔孙干涉仪基础上制成的弱振动测试设备能够很好地完成对１０６ｍ量级幅度的正弦微振动的测量．利用该套装置对压电陶瓷材料在不同频率正弦电压激励下的振动幅度进行了测量，求出了压电陶瓷片逆压电系数的幅频关系．

关 键 词：压电陶瓷 弱振动测试 逆电压系数 光干涉法 

分 类 号：TM282[一般工业技术—材料科学与工程]