泰克在2013IDF上展示高速串行信号测试解决方案  

出　　处：《通讯世界》2013年第4期62-62,共1页Telecom World

摘　　要：泰克公司日前在2013英特尔信息技术峰会（IDF）上展示业界最完整、最灵活的高速串行信号测试解决方案，为高速数据设计人员解决USB3．0、PCIeGen3／4、SATA等高速串行信号测试带来的挑战，并大幅缩短测试和调试时间。众所周知，泰克为USB测试提供了丰富的验证、调试以及一致性测试方案，而不像其他测试方案，仅仅支持规范定义的标准测试。

关 键 词：测试解决方案 串行信号 泰克公司 英特尔信息技术峰会 测试方案 设计人员 高速数据 SATA 

分 类 号：TN929.533[电子电信—通信与信息系统]