泰克在2013英特尔信息技术峰会(IDF)上展示业界完整、灵活的高速串行信号测试解决方案  

出　　处：《国外电子测量技术》2013年第4期80-81,共2页Foreign Electronic Measurement Technology

摘　　要：2013年4月10日泰克公司宣布，在4月10日-11日于北京中国国家会议中心举办的2013英特尔信息技术峰会（IDF）上展示业界完整、灵活的高速串行信号测试解决方案，为高速数据设计人员解决USB3．0、PCIe Gen3／4、SATA等高速串行信号测试带来的挑战，并大幅缩短测试和调试时间。

关 键 词：英特尔信息技术峰会 测试解决方案 串行信号 泰克公司 设计人员 高速数据 SATA 测试带 

分 类 号：TN929.533[电子电信—通信与信息系统]