发光强度测量与计算在探针测试中的应用  

Light Intensity Measurement And Calculation During The Probe Test

作　　者：田洪涛[1] 李斌[1] 宋婉贞[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京101601

出　　处：《电子工业专用设备》2013年第5期30-34,共5页Equipment for Electronic Products Manufacturing

摘　　要：通过对光谱仪的控制,对各项发光强度参数的计算与校准,在传统的探针设备基础上增加发光强度的测试过程,从而丰富探针设备的功能。目前设备已经达到红、黄、蓝光芯片的测试的要求,并在客户现场投入使用。主要总结归纳发光强度测量计算方法与实验结论。Based on the light intensity of the color spectrum,parameter calculation and calibration,in the tradition of the probe device is added on the basis of color test process,thus enriching the probe device function.At present,the device has reached a red,yellow,blue chip testing requirements,and put into use at customer site.This paper mainly summarized the intensity measurement and calculation methods,and experimental results.

关 键 词：光谱仪 发光强度参数 计算与校准 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]