用低温扫描电子显微镜观察 YBaCuO 超导薄膜的临界电流密度 J_c 的分布  

OBSERVATION OF THE SPATIAL DISTRIBUTION OF THE CRITICAL CURRENT DENSITY Jc IN YBaCuO SUPERCONDUCTING THIN FILMS BY LOW TEMPERATURE SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

作　　者：冯一军[1] 程其恒[1] 刘含默 吴培亨[1] 杨森祖 吉争鸣[1] 孙志坚[1] 金飚兵[1] 

机构地区：[1]南京大学现代分析中心,南京210008 [2]南京大学信息物理系,南京210008

出　　处：《低温物理学报》1991年第5期327-333,共7页Low Temperature Physical Letters

基　　金：国家自然科学基金;国家超导技术联合研究开发中心资助项目

摘　　要：利用低温扫描电子显微镜(LTSEM),我们对高温超导 YBaCuO 外延膜的临界电流密度J_c 和临界温度 T_c 的分布进行了观察.低温扫描电镜是目前可以观察超导薄膜中 J_c、T_c 分布情况的仪器,本文详细说明了利用 LTSEM 来观察超导薄膜 J_c、T_c 分布情况的原理,以及如何将 SEM 改装为 LTSEM.实验结果表明 YBaCuO 外延膜表面临界电流密度 J_c 和临界温度 T_c 的分布是不均匀的,但其不均匀性比多晶膜小得多,而且其分布情况与膜的表面形貌有关.Using low temperature scanning electron microscopy(LTSEM) we have observed the spatial distribution of the critical current density Jc of superconduting epitaxial YBaCuO thin films. LTSEM is the only instrument capable of investigating the distribution of Jc and Tc in superconducting thin films. In this paper we have demonstrated the principle and structure of the LTSEM used to observe the Jc and Tc distribution. The experimental results show that the Jc and Tc distribution is inhomogeneous for the epitaxial YBaCuO thin films, but the in-homogeneity is much weaker than polycrystalline thin films and is influences by the imperfections in the films.

关 键 词：YBACUO 薄膜 临界电流密度 LTSEM 

分 类 号：TM262[一般工业技术—材料科学与工程]