半偏法测量微安表内阻的不确定度研究  

Research on the Uncertainty in Measuring the Inner-resistance of Micro-ampere-meter by Half Electric Current Measurement

作　　者：王炳章[1] 

机构地区：[1]沧州师范学院机电工程系,河北沧州061001

出　　处：《沧州师范学院学报》2013年第2期33-36,共4页Journal of Cangzhou Normal University

摘　　要：在测量微安表内阻的众多方法中,半偏法是常用的方法之一.全面分析了影响测量结果不确定度的因素,得出了实验测量的最佳条件.Half electric current measurement is one of the methods that measure the inner-resistance of micro-ampere-meter. Some uncertain factors that affect the result are analyzed so as to find the best condition.

关 键 词：物理实验 微安表 电阻测量 不确定度 

分 类 号：O441.1[理学—电磁学]