散斑干涉条纹测量系统设计  被引量:3

Measurement system design of speckle interference fringes

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作  者:盛伟[1] 李季平[1] 陈加林[1] 王辰熙[1] 

机构地区:[1]南京航空航天大学理学院,江苏南京211106

出  处:《光学仪器》2013年第3期58-62,共5页Optical Instruments

基  金:南京航空航天大学青年基金资助项目(Ns2010191)

摘  要:为了测量散斑干涉条纹,从而计算出被测物体的微位移,提出了一种基于AT89S52芯片的解决方案。运用单片机驱动步进电机,精准控制光敏传感器的移动,利用传感器判定暗条纹中心,结合软件进行实时处理,获得再现干涉条纹间距。实验结果表明,该设计方案对散斑位移的测量精度可达0.001mm。To measure the speckle interference fringes and calculate the micro-displacement of the object, a solution based on AT89S52 chip was proposed. Driven by a step motor, light sensor moved precisely, so that the center position of the dark stripes could be dertermined accurately. With the software of MCU, this system can process data in real-time, and finally obtains interference fringe spacing. Experimental results show the accuracy of this design system is 0. 001 mm.

关 键 词:微位移测量 相干光学 单片微型计算机 步进电机 光敏传感器 

分 类 号:TH744[机械工程—光学工程] O436.1[机械工程—仪器科学与技术]

 

参考文献:

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引证文献:

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