可程式电容器老化电源  

Programmable Capacitor Aging Test Source

作　　者：罗达逸[1] 李军[1] 

机构地区：[1]广东工业大学自动化学院,广东广州510006

出　　处：《工业控制计算机》2013年第6期118-119,共2页Industrial Control Computer

摘　　要：介绍一种可程式电容器老化电源的设计方案与现实。该电源专门为电容后期生产过程中的老化处理而研发。采用新唐32位单片机进行PID控制,强电部分使用全桥DC-DC变换型开关电源。充电前期,充电电流太大,实行恒流控制。充电后期,实行恒压控制。有多种工作模式可供选择,加快生产速度及具有各种保护功能。This paper introduces a design of a programmable capacitor aging test source.This power supply supply for capacitance aging in the process of production.Using the NuMicro 32-bit MCU for PID control.And in the forceful electric power part,a full-bridge DC-DC converter of switching power supply been used.In the early part,because the charging electric current is large,used constant current charging,and in the later period,used constant voltage charging.

关 键 词：开关电源 电容器老化 可程式 PWM控制 脉冲充电 

分 类 号：TM53[电气工程—电器]