高压直流绝缘子外形的研究——直流闪络特性  

作　　者：倪淑文 

出　　处：《电瓷避雷器》1991年第3期41-46,共6页Insulators and Surge Arresters

摘　　要：介绍了各种几何形状的绝缘子试样,在直流电场下闪络试验的结果。用尺寸参数来描写绝缘子外形对闪络特性的影响。研究了表面污秽程度和几何形状对电弧分布特性的影响。表明绝缘子试样在直流电场下的闪络电压受绝缘子下棱的宽度和深度的影响很大。同时也表明直流电场下的电弧通路是几何形状和表面污秽分布的函数。

关 键 词：高压直流 绝缘子 闪络试验 

分 类 号：TM216.06[一般工业技术—材料科学与工程]