E系统下的审查质量控制模式优化探讨  

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作  者:崔朝利[1] 张清涛[1] 

机构地区:[1]国家知识产权局专利局专利审查协作北京中心

出  处:《中国发明与专利》2013年第7期97-101,共5页China Invention & Patent

摘  要:E系统借助计算机技术,使专利审查的过程信息能够进行有效的传递和反馈,在实现监控质量的同时,还能够促进审查经验的交流和传播。本文提出采用质量反馈学习卡的方式,使所属技术领域的审查员能够参与质控及共同学习,共享审查经验。标准案例库能够辅助审查,增强审查意见的准确性和一致性,另外本文提出质量管理结构、质量缺陷坐标图、隶属函数推理模型,可以实现对专利审查流程的局部优化。

关 键 词:专利电子审批系统 E系统 质量反馈 学习卡 质检 质量缺陷坐标 质量管理结构 隶属函数 案例库 

分 类 号:TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]

 

参考文献:

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引证文献:

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