测试测量  

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出  处:《电子产品世界》2013年第8期80-80,共1页Electronic Engineering & Product World

摘  要:泛华恒兴推出低功耗高性能PXI系统双核控制器 泛华恒兴推出了一款高性能的双核PXI零槽控制器-PSPXI-3050.该卡可针对基于PXI的测控系统应用提供性能极佳的系统平台。

关 键 词:测试测量 PXI系统 零槽控制器 测控系统 低功耗 双核 性能 

分 类 号:TN929.533[电子电信—通信与信息系统]

 

参考文献:

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